Es gibt viele Kundenfeedbacks, dass ihre LED-Leuchten im Jahr 30 den EMI-Strahlungstest mit CE-Zertifikat (300-2019 MHz) nicht bestehen können, aber es ist der gleiche, der letztes Jahr bestanden werden kann. Warum passiert das? Der Hauptgrund ist, dass der neue EMI-Teststandard auf CISPR15: 2018 aktualisiert wurde. Das EMI-Test ist bei LED-Leuchten am wichtigsten und am schwierigsten zu prüfen. Dieser Artikel LISUN Der Ingenieur wird uns mitnehmen, um den neuen Standard zu studieren CISPR15: 2018 verglichen mit CISPR15: 2013.
Die neueste Version der internationalen Norm für Beleuchtungsanlagen CISPR 15: 2018 wurde am 16. Februar 2018 veröffentlicht. Klicken Sie auf die nachstehende Schaltfläche, um die neue Norm herunterzuladen:
Gegenüber der alten Version CISPR 15: 2013 + A1: 2015 ergeben sich folgende wesentliche Änderungen:
1. Die Anforderungen für den Einfügungsverlusttest und den ursprünglichen Anhang A wurden entfernt.
2. In Tabelle 4, Tabelle 5 und Tabelle 6 sind die Anforderungen an die Grenzwerte für Leitungsstörungen für Stromanschlüsse für ELV-Lampen und -Kabel, die keine Stromanschlüsse sind, aufgeführt.
3. Nehmen Sie die folgenden Änderungen für den Leitungsstörungswert der kabelgebundenen Netzwerkschnittstellen vor (siehe Details aus den Standardtabellen 2 und 3):
A: Der Name wird vom Steuerterminal auf verdrahtete Netzwerkschnittstellen aktualisiert.
B: Die Grenze für die Prüfung mit Stromsonden wurde erhöht, und es wird eindeutig festgestellt, dass die Leitungsstörung der effektiven Netzwerkschnittstelle die Standardanforderungen erfüllt, solange der Störstrom oder die Störspannung erfüllt ist.
4. Die folgenden Änderungen wurden an den Grenzwerten für Leitungsstörungen der lokalen verdrahteten Schnittstellen vorgenommen (Einzelheiten siehe Standardtabelle 5 und Tabelle 6).
A: Der Name wird vom Ladeterminal auf lokale Kabelports aktualisiert.
B: Die Grenze für die Prüfung mit Stromsonden wurde erhöht. Solange der Störstrom oder die Störspannung erfüllt ist, kann davon ausgegangen werden, dass die Leitungsstörung des lokalen verdrahteten Ports den Standardanforderungen entspricht.
5. Nennen Sie eine neue Prüfmethode für Störfelder: die CDNE Methode, die die ursprüngliche CDN-Methode ersetzt;
6. Gibt an, ob bei Verwendung der CDN-Methode zur Auswertung von Messungen von Strahlungsfeldstörungen die interne Arbeitsfrequenz des Produkts ≤ 30 MHz betragen muss und die Produktgröße innerhalb von 3 m * 1 m * 1 m (Länge * Breite * Höhe) gesteuert werden sollte.
7. Die Grenze (QP / Quasi-Peak) der CDNE-Methode ist strenger.
8. Das Testlayout der CDNE-Methode:
9. Zusätzlich zur CDNE-Methode erhöhen die Messungen der Strahlungsfeldstörung die Grenzanforderungen von 300 MHz bis 1 GHz wie folgt (QP / Quasi-Peak, 3 m Halbwellen-Dunkelkammer).
Testfrequenz (MHz) | Grenze dB (uV / m) |
30 bis 230 | 40 |
230 bis 1000 | 47 |
10. Anordnung der Weltraumstörungen durch Strahlung und Hinzufügen einer CDNE zur Stromversorgung des zu testenden EUT:
11. Für die Rahmenantenne Strahlungsfeldstörungsmessungen wurde hinzugefügt, dass ein neues Produkt mit einer Größe von> 1.6 m gemäß der Methode in getestet werden kann CISPR16-1-4: Test in einer 3-m-Umgebung mit einer 60-cm-Rahmenantenne in einem offenen Feld oder einem dunklen Halbwellenraum. Diese Testmethode kann den Rahmenantennen-Test mit einer Größe von 3 m und 4 m ersetzen.
Die Grenzen dieser Testmethode sind wie folgt (QP / Quasi-Peak):
Testfrequenz (MHz) | Grenze dB (uV / m) |
0.009 bis 0.070 | 69 |
0.070 bis 0.150 | 69 bis 39 |
0.150 bis 4.0 | 39 bis 3 |
4.0 bis 30.0 | 3 |
12. Die Öffnung der konischen Gehäusetafel wurde wie folgt geändert:
13. Bei Lampen mit eingebautem Vorschaltgerät, die den Bajonettverschluss GU10 verwenden, muss das konische Gehäuse oder der Bajonettverschluss selbst während der durchgeführten Störungsmessungen wie folgt mit dem Schutzleiter des AMN verbunden werden:
14. Korrigierte die Alterungszeit, die zum Testen einiger Leuchten erforderlich war, und spezifizierte eindeutig, dass die Leuchten mit LED / OLED-Technologie keine Alterungsanforderungen vor dem Testen aufwiesen.
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