Produkt Nr.: ESD-883D
ESD-883D ESD-Simulatoren für IC-Tests sind speziell auf die Eigenschaften und Anforderungen der elektrostatischen Entladungsfestigkeitsprüfung von Human Body Model (HBM)- und Machine Model (MM)-Entladungen ausgelegt. Sie können die elektrostatische Immunität von Halbleiterbauelementen wie LED-Chips, Transistoren und ICs prüfen. Sie wurden gemäß den Anforderungen der folgenden entsprechenden Normen entwickelt und hergestellt und erfüllen die strengsten Anforderungen an die elektrostatische Spannung in den folgenden Normen.
Entladungsmodell | Internationale Standards |
Modell des menschlichen Körpers (HBM) | MIL-STD-883 Methode 3015 „Testmethodenstandard für Mikroschaltkreise – Prüfung der Anfälligkeit für elektrostatische Entladung“ |
ANSI/ESD STM5.1-2007 „Standardprüfverfahren zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Menschliches Körpermodell (HBM) – Komponentenebene“ | |
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024 „Test der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Menschliches Körpermodell (HBM) – Komponentenebene“ | |
IEC 60749-26:2018 „Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Menschliches Körpermodell (HBM)“ | |
AEC-Q100-002 „Qualifizierung von Stresstests auf der Grundlage von Fehlermechanismen für integrierte Schaltkreise – ESD-HBM-Test“ | |
EIA/JESD22-A114-A „Testmethode zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Menschliches Körpermodell (HBM)“ | |
Maschinen-Modell (MM) | ANSI/ESD STM5.2-2013 „Standardprüfverfahren zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Maschinenmodell (MM) – Komponentenebene“ |
IEC 60749-27:2012 „Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)“ | |
AEC-Q100-003 „Qualifizierung von Stresstests auf der Grundlage von Fehlermechanismen für integrierte Schaltkreise – ESD-MM-Test“ | |
EIA/JESD22-A115-A „Testverfahren zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Maschinenmodell (MM)“ |
Charakteristik:
• Farb-LCD-Touchscreen, einfach zu bedienen.
• Ausgangsspannung mit hoher Genauigkeit und stabiler Leistung
• Intelligentes programmierbares Hochspannungsnetzteil, Hochspannungsüberspannung, Überstrom, Kurzschlussschutz
• Mit der Eigendiagnosefunktion können abnormale Hochspannungsausgänge intelligent beurteilt werden
• Kostengünstig: Die Hauptkomponenten sind alle importiert, mit hoher Genauigkeit und geringer Ausfallrate.
Spezifikation:
Ausgangsspannung | Menschliches Körpermodell (HBM) | Maschinenmodus (MM) | |
0.05 bis 8 kV ± 5 % | 50 – 800 V ± 5 % | ||
Ausgangspolarität | Positive, negative oder automatische Umschaltung | ||
Auslösemodus | Einwellig | Einzelentladung | |
Zu Zählen | Entladung gemäß den eingestellten Entladezeiten | ||
Andere | Host selbstauslösend | ||
Entlademodus | HBM und MM | ||
Entladungsintervall | 1 ~ 99s | ||
Entlassungsnummer | 1 ~ 999 | ||
Entladekapazität | 100 pF ± 10 % | 200 pF ± 10 % | |
Entladewiderstand | 1500Ω±10% | 0Ω±10% | |
Arbeitsenergie | AC 100 ~ 240V, 50 / 60Hz, 300W |
Hinweis: ESD-883D kann einen Host teilen mit ESD-CDM Charged Device Mode (CDM) ESD-Test für IC um HBM, MM und CDM gleichzeitig zu testen (LISUN Modell: ESD-883D/ESD-CDM)
Tags:IC-Tester für elektrostatische Entladung (ESD) , ESD-883D