LM-79 Beweglicher Detektor Goniophotometer (Spiegel Typ C)
LSG-6000
Hochpräzises Drehleuchten-Goniophotometer
LSG-1890B
Hochpräzises Rotationsleuchten-Goniospektralradiometer
LSG-1890BCCD
Goniophotometer für Kfz- und Signallampen
LSG-1950
Goniophotometer für Verkehrssignallampen (Wirtschaftliches Modell)
LSG-1950S
Goniophotometer für die Flugplatzbeleuchtung
LSG-1940
VAD-Feueralarm-Sichtwarngerät Goniophotometer
LSG-1930
Kompaktes Goniophotometer
LSG-1200A
LED-Goniophotometer
LSG-1100
Nahfeld Bewegungsmelder Goniophotometer
LSG-1900B
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Zusammenfassung: Bei der Herstellung, dem Transport und der Montage von Halbleiterchips stellt die elektrostatische Entladung in geladenen Bauelementen eine Hauptursache für unerwartete Ausfälle integrierter Schaltungen dar. Diese Ausfälle zeichnen sich durch starke Tarnung, extrem kurze Impulsdauer und hohe Schwierigkeit der Reproduktion aus. Herkömmliche Tests mit dem Human-Body-Modell (HBM) und dem Machine-Model (MM) reichen dafür nicht aus…
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