Produktnummer: SMT-TD15
Zweck:
Die Telecom-Test Probe erfüllt die Standards UL 60950-1 Abbildung 2C und UL6500 Abbildung B.1. Für den absoluten Anteil der TNV-Schaltkreise der Informationstechnologie ist zu prüfen, ob sie ausreichenden Schutz bieten.
Kontakte von Anschlüssen für TNV-KREISE, die von der Prüfspitze (Abbildung B.1) nicht berührt werden können, sind eine zusätzliche Ausnahme von der Anforderung für unzugängliche ANSCHLUSSKONTAKTE.
Geräte mit Eingangsleitungen für TELEKOMMUNIKATIONSNETZWERKE, über die Rufspannungen an das Gerät angelegt werden, müssen Leckstrom-bedingten Rufspannungsprüfungen gemäß 6.3.4.3 von UL 1950, Dritte Ausgabe, unterzogen werden.
Entspricht:
Standard UL6500 Abbildung B.1 / UL 60950-1 Abbildung 2C usw.
Technischer Parameter:
Prüfspitzendurchmesser: 12 mm
Länge der Prüfsonde: 80 mm
Dicke der Prallplatte: 5 mm
Prallplattendurchmesser: 50 mm
Prüfspitze SM430E UL 60950-1 Abbildung 2C
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